219 lines
4.0 KiB
C
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4.0 KiB
C
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#ifndef JQCHECKER_H_
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#define JQCHECKER_H_
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#include "base/define.h"
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#include "basechecker.h"
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extern Checker_RunCfg_st checker_runcfg;
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extern CheckerTask jqtaskArray[CHECKER_MAXID_COUNT];
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/*
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brief 准备测试用电压
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@param 设置电压值，最多支持10个参数
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*/
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void JQ_Test_PowerPrapare(void);
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/*
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@brief 统计模块的上电充能，具有电压设置功能,采集档位 R10_0p1mA_1p6mA_UC
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@param1 总线电压
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@param2 充电结束时的AD值
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@rtv1 返回总线电流低于设置AD值的时间
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*/
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void JQ_Test_PowerOn(void);
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/*
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@brief 扫描总线上的电子模块 1发
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@param0 使能或失能通信反码信息采集
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@param1 1 uid数据全0验证 其他不验证
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*/
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void JQ_Test_ScanUID(void);
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/*
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@brief 设置总线电压
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@param1 总线电压
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@rtv1 总线电压
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*/
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void JQ_Test_SetBusV(void);
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/*
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@brief 测量总线基本电压
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@rtv1 返回总线电流 单位0.01uA
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*/
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void JQ_Test_BaseCur(void);
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/*
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@brief 读取芯片码
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@rtv 芯片代码2字节
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*/
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void JQ_Test_ReadChipID(void);
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/*
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@brief OTP全0检测
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@param0 UID区和密码区验证标志 1不验证 0 验证
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@param1 延时区和保留区验证 1不严重 0验证，错误标记区
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@param2 用户存储区
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*/
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void JQ_Test_OTPCheck(void);
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/*
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@brief 工厂成测标志检测
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*/
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void JQ_Test_FTCheck(void);
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/*
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@brief 读芯片状态
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@param0 比较掩码，状态与掩码与等于掩码返回正常
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*/
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void JQ_Test_ReadState(void);
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/*
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@brief 写入OTP数据
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@param0 2字节OTP数据
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|
@param1 2字节OTP数据
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*/
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void JQ_Test_WriteUserInfo(void);
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/*
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@brief 充能统计
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@param0 充电电流判线值,AD值
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@param1 充电末电流结束值，单位0.1uA
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@param2 充电最长时间,单位100ms
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|
@param3 充电高压保持时间，单位0.1s
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@rtv0 充能值 单位0.1ms
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@rtv1 充末电流 单位0.1uA
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@rtv2 充电最大电流 单位0.1Ma
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@rtv3 充电抖动幅值 adv
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*/
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void JQ_Test_ChgEnergy(void);
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/*
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@brief DAC检测
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@param DAC检测的起始值
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@param DAC检测的结束值
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*/
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void JQ_Test_CheckDAC(void);
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|
|
/*
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|
@brief 延时
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|
@pram1 延时时间 0.1S
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|
@param 使能总线电流监控
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@rtv1 波动AD值
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*/
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|
void JQ_Test_WaitDelay(void);
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|
|
/*
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|
|
@brief 写延时
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|
|
@param 延时时间
|
|||
|
|
*/
|
|||
|
|
void JQ_Test_SetDelay(void);
|
|||
|
|
/*
|
|||
|
|
@brief 读延时
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|
|
@param 延时时间
|
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|
|
*/
|
|||
|
|
void JQ_Test_ReadDelay(void);
|
|||
|
|
/*
|
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|
|
@brief 校准
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|
|
@param1 校准周期
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|
|
@param2 脉冲个数
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|
*/
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|||
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|
void JQ_Test_ClkTrim(void);
|
|||
|
|
/*
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|
|
@brief 放电
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|
|
*/
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|||
|
|
|
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|
|
void JQ_Test_Discharge(void);
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|
|
/*
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|
|
@brief 复位
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|
*/
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|
|
void JQ_Test_Reset(void);
|
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|
|
/*
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|
|
@brief 起爆使能
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|
|
*/
|
|||
|
|
void JQ_Test_BootEn(void);
|
|||
|
|
/*
|
|||
|
|
@brief 起爆充能
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|
|
@param1 启动电流 adc
|
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|
|
@param2 脉冲个数
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|||
|
|
@param3 延迟采集充能
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|
@param4 使能电压波动监控
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|
@rtv1 起爆后充电能量
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|
|
@rtv2 起爆脉冲波动
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|
|
@rtv3 起爆后充电电流
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|
|
@rtv4 起爆后充电电流波动
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|
|
*/
|
|||
|
|
|
|||
|
|
void JQ_Test_BoomEnergy(void);
|
|||
|
|
/*
|
|||
|
|
@brief 使能通讯末电流采样
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|||
|
|
*/
|
|||
|
|
void JQ_Test_EnCommEndCur(void);
|
|||
|
|
/*
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|
|
@brief 获取通讯末电流采样，关闭电流采样
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|
|
@rtv 返回上次采集的通讯末电流
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|
|
*/
|
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|
|
void JQ_Test_GetCommEndCur(void);
|
|||
|
|
/*
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|
|
@brief 关总线
|
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|
|
*/
|
|||
|
|
void JQ_Test_PowerOff(void);
|
|||
|
|
/*
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|
|
@brief 密码验证
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|
|
@param0 密码源码验证使能
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|
|
*/
|
|||
|
|
void JQ_Test_PWCheck(void);
|
|||
|
|
/*
|
|||
|
|
@brief 写入OTP数据
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|||
|
|
@param0 OTP 地址
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|
|
@param1 写入数据长度
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|||
|
|
@param2 2Bytes OTP数据
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|||
|
|
@param3 2Bytes OTP数据
|
|||
|
|
@param4 2Bytes OTP数据
|
|||
|
|
@param5 2Bytes OTP数据
|
|||
|
|
*/
|
|||
|
|
void JQ_Test_WriteOTP(void);
|
|||
|
|
/*
|
|||
|
|
@brief 读OTP
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|
|
@param0 OTP地址
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|
|
@param1 OTP 数量
|
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|
*/
|
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|
|
|
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|
|
void JQ_Test_ReadOTP(void);
|
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|
|
/*
|
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|
|
@brief 清除起爆命令
|
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|
|
*/
|
|||
|
|
void JQ_Test_ClearBoom(void);
|
|||
|
|
/*
|
|||
|
|
@brief 缓存数据写入OTP数据
|
|||
|
|
@param0 OTP 地址
|
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|
@param1 缓存区起始
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|
|
@param2 写入数据长度
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|||
|
|
*/
|
|||
|
|
void JQ_Test_WriteBuf2OTP(void);
|
|||
|
|
/*
|
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|
|
@brief 写入三码数据
|
|||
|
|
*/
|
|||
|
|
void JQ_UID_PWD_Bind(void);
|
|||
|
|
/*
|
|||
|
|
@brief UID PWD 验证
|
|||
|
|
*/
|
|||
|
|
void JQ_Verify_UID_PWD(void);
|
|||
|
|
/*
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|
@breif 测量电容电压差
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|
|
@param0 两次测量间隔 0.1s
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@rtv0 电压差值
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|
|
*/
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|||
|
|
void JQ_Test_CapVoltage(void);
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|||
|
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/*
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|||
|
|
@breif OTP 读写使能
|
|||
|
|
*/
|
|||
|
|
|
|||
|
|
void JQ_Test_EnOTPW(void);
|
|||
|
|
/*
|
|||
|
|
@brief 获取版本号
|
|||
|
|
|
|||
|
|
*/
|
|||
|
|
void JQ_Test_ReadVersion(void);
|
|||
|
|
/*
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|
|
@breif 写模块版本 前提是要使能OTP (ENWOTP)
|
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|
@param0 模块版本号
|
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|
*/
|
|||
|
|
void JQ_Test_WriteVersion(void);
|
|||
|
|
#endif
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