移植与电子模块通信相关代码

source/elec_det/interface/XTChecker.h

@@ -0,0 +1,250 @@
+#ifndef XTCHECKER_H_
+#define XTCHECKER_H_
+#include "base/define.h"
+#include "basechecker.h"
+
+extern Checker_RunCfg_st checker_runcfg;
+extern CheckerTask xttaskArray[CHECKER_MAXID_COUNT] ;
+/*
+@brief 统计模块的上电充能，具有电压设置功能,采集档位 R10_0p1mA_1p6mA_UC
+@param1 总线电压
+@param2 充电结束时的AD值
+@rtv1   返回总线电流低于设置AD值的时间
+*/
+void XT_Test_PowerOn(void);
+/*
+@brief 设置总线电压
+@param1 总线电压
+@rtv1   总线电压
+*/
+void XT_Test_SetBusV(void);
+/*
+@brief 测量总线基本电压
+@rtv1 返回总线电流 单位0.01uA
+*/
+void XT_Test_BaseCur(void);
+/*
+@brief 扫描总线上的电子模块 1发
+@param0 UID长度
+@param1 使能或失能 UID对比
+*/
+
+void XT_Test_ScanUID(void);
+/*
+@brief 写芯片配置
+@param0 UID长度
+@param1 密码长度
+@param2 反馈电流挡位
+@param4 版本标识
+@rtv 芯片配置3字节
+*/
+void XT_Test_WriteChipCfg(void);
+/*
+@brief 读取芯片配置并比对
+@param0 UID长度
+@param1 密码长度
+@param2 反馈电流挡位
+@param4 版本标识
+*/
+void XT_Test_CheckChipCfg(void);
+/*
+@brief 模拟注码
+*/
+void XT_Test_BindTestCode(void);
+/*
+@brief 充能统计
+@param0 充电电流判线值,AD值
+@param1 充电末电流结束值，单位0.1uA
+@param2 充电最长时间,单位100ms
+@param3 充电高压保持时间，单位0.1s
+@param4 充电挡位
+@rtv0 充能值 单位0.1ms
+@rtv1 充末电流 单位0.1uA
+@rtv2 充电最大电流 单位0.1Ma
+@rtv3 充电抖动幅值 adv
+*/
+
+void XT_Test_ChgEnergy(void);
+/*
+@brief 写现场值,如果UID已经写入，会将现场值读取进行比对
+@param 0 编号
+@param 1 延时
+@param 2 孔号
+*/
+
+void XT_Test_WriteRunField(void);
+/*
+@brief 比对现场值
+@param0 比对网络号
+@param1 比对延时
+@param2 比对孔位
+@param3 1使能或 0失能通信反码信息采集
+@rtv1 最大反馈电流
+@rtv2 最大反馈时间
+@rtv3 最小反馈电流
+@rtv4 最小反馈时间
+*/
+
+void XT_Test_CheckRunField(void);
+/*
+@brief 桥丝通断检测,如果测试器有uid，将采用uid方式通信
+*/
+void XT_Test_Resister(void);
+/*
+@brief 电容容量检测,如果测试器有uid，将采用uid方式通信
+@pram  检测电压参数
+*/
+void XT_Test_Cap(void);
+/*
+@brief 写管壳码 如果测试器有uid，将采用uid方式通信
+@param 命令缓存参数的起始
+@param 写入数据长度
+*/
+void XT_Test_WriteShell(void);
+/*
+@brief 写UID
+@param 命令缓存参数的起始
+@param 写入数据长度
+*/
+void XT_Test_WriteUID(void);
+/*
+@brief 写密码
+@param 命令缓存参数的起始
+@param 写入数据长度
+*/
+void XT_Test_WritePWD(void);
+/*
+@brief 备份区标记检测,备份区用于存储检测标记
+@param0 0备份区标记 或 1比对
+@param1 备份区数据掩码 2Bytes
+@param1 备份区写入数据 2Bytes
+
+*/
+
+void XT_Test_CheckBackFlag(void);
+/*
+@brief 备份区标记检测,备份区用于存储检测标记
+*/
+void XT_Test_ReadBackFlag(void);
+/*
+@brief 时钟校准
+@param0 校准模式 1 快速 0 全
+@param1 校准周期
+@param2 校准时长
+*/
+void XT_Test_Trim(void);
+/*
+@brief 放电
+*/
+void XT_Test_Discharge(void);
+
+/*
+@brief 失能通信末电流采集
+*/
+void XT_Test_EnCommEndCur(void);
+/*
+@brief 获取通信末电流
+*/
+void XT_Test_GetCommEndCur(void);
+/*
+@brief 在线检测
+@param 检测网络号
+*/
+void XT_Test_OneLineCheck(void);
+/*
+@brief 状态检测,如果UID已经存在，使用UID读取。否则通过扫描的方式
+@param0 状态比较掩码
+*/
+void XT_Test_CheckState(void);
+/*
+@brief 起爆
+*/
+void XT_Test_Boom(void);
+/*
+@brief 复位
+*/
+void XT_Test_Reset(void);
+/*
+@brief 关总线
+*/
+void XT_Test_PowerOFF(void);
+/*
+@brief 芯片锁存
+*/
+void XT_Test_LockCmdC(void);
+/*
+@brief 赋码设备失能
+*/
+
+void XT_Test_CodeBindEn(void);
+/*
+@brief 接入检测
+@param0 上电电压
+@param1 超时次数
+*/
+void XT_Test_InputCheck(void);
+/*
+@brief 密码验证
+*/
+
+void XT_Test_CheckPWD(void);
+/*
+@brief 三码写入
+@rtv 0 执行成功
+		 1 电压设置失败
+		 3 UID写入失败
+		 4 密码写入失败
+		 5 获取UID失败
+		 6 UID写入失败
+		 7 锁存失败
+		 8 等待接入超时
+*/
+
+uint8_t XT_UID_PWD_Bind(void);
+/*
+@brief 加载配置参数
+@rtv UID长度
+@rtv 密码长度
+@rtv 版本号
+@rtv 反码数据
+*/
+void XT_Test_LoadChipCfg(void);
+/*
+@breif 测量电容电压差
+@param0 两次测量间隔 0.1s
+@rtv0   电压差值
+*/
+void XT_Test_CapVoltage(void);
+/*
+@brief 三码绑定验证
+*/
+void XT_Test_UID_PWD_Verify(void);
+/*
+@brief 写入三码数据
+*/
+void XT_Test_UID_PWD_Bind(void);
+/* 
+@breif 在线检测 并扫描通信
+@param0 总线电压
+@param1 超时时间1ms 最大6S
+@param2 UID长度
+*/
+
+void XT_OnLine_SCAN(void);
+/*
+@brief 芯片离线检测
+@param0 超时时间 1ms
+@param1 离线电流 0.1uA
+@param2 稳定次数
+*/
+
+void XT_OFFLine_SCAN(void);
+/*
+@brief 芯片离线检测
+@param0 充电使能
+@param1 采样周期 10ms
+@param2 采样次数
+*/
+
+void XT_CurMonitor(void);
+#endif