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5.0 KiB
C
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C
#ifndef XTCHECKER_H_
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#define XTCHECKER_H_
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#include "base/define.h"
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#include "basechecker.h"
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extern Checker_RunCfg_st checker_runcfg;
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extern CheckerTask xttaskArray[CHECKER_MAXID_COUNT] ;
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/*
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@brief 统计模块的上电充能，具有电压设置功能,采集档位 R10_0p1mA_1p6mA_UC
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@param1 总线电压
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@param2 充电结束时的AD值
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@rtv1 返回总线电流低于设置AD值的时间
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*/
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void XT_Test_PowerOn(void);
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/*
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@brief 设置总线电压
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@param1 总线电压
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@rtv1 总线电压
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*/
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void XT_Test_SetBusV(void);
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/*
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@brief 测量总线基本电压
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@rtv1 返回总线电流 单位0.01uA
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*/
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void XT_Test_BaseCur(void);
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/*
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@brief 扫描总线上的电子模块 1发
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@param0 UID长度
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@param1 使能或失能 UID对比
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*/
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void XT_Test_ScanUID(void);
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/*
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@brief 写芯片配置
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@param0 UID长度
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@param1 密码长度
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@param2 反馈电流挡位
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@param4 版本标识
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@rtv 芯片配置3字节
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*/
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void XT_Test_WriteChipCfg(void);
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/*
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@brief 读取芯片配置并比对
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@param0 UID长度
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@param1 密码长度
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||
@param2 反馈电流挡位
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@param4 版本标识
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||
*/
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void XT_Test_CheckChipCfg(void);
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||
/*
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@brief 模拟注码
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*/
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void XT_Test_BindTestCode(void);
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||
/*
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@brief 充能统计
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@param0 充电电流判线值,AD值
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@param1 充电末电流结束值，单位0.1uA
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@param2 充电最长时间,单位100ms
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@param3 充电高压保持时间，单位0.1s
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||
@param4 充电挡位
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@rtv0 充能值 单位0.1ms
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@rtv1 充末电流 单位0.1uA
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@rtv2 充电最大电流 单位0.1Ma
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@rtv3 充电抖动幅值 adv
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||
*/
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void XT_Test_ChgEnergy(void);
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/*
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||
@brief 写现场值,如果UID已经写入，会将现场值读取进行比对
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@param 0 编号
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@param 1 延时
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@param 2 孔号
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*/
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void XT_Test_WriteRunField(void);
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/*
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@brief 比对现场值
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@param0 比对网络号
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@param1 比对延时
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@param2 比对孔位
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@param3 1使能或 0失能通信反码信息采集
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@rtv1 最大反馈电流
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@rtv2 最大反馈时间
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||
@rtv3 最小反馈电流
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||
@rtv4 最小反馈时间
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||
*/
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||
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void XT_Test_CheckRunField(void);
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||
/*
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||
@brief 桥丝通断检测,如果测试器有uid，将采用uid方式通信
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||
*/
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void XT_Test_Resister(void);
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||
/*
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||
@brief 电容容量检测,如果测试器有uid，将采用uid方式通信
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||
@pram 检测电压参数
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||
*/
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||
void XT_Test_Cap(void);
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||
/*
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||
@brief 写管壳码 如果测试器有uid，将采用uid方式通信
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||
@param 命令缓存参数的起始
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||
@param 写入数据长度
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||
*/
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||
void XT_Test_WriteShell(void);
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||
/*
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||
@brief 写UID
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||
@param 命令缓存参数的起始
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||
@param 写入数据长度
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||
*/
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||
void XT_Test_WriteUID(void);
|
||
/*
|
||
@brief 写密码
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||
@param 命令缓存参数的起始
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||
@param 写入数据长度
|
||
*/
|
||
void XT_Test_WritePWD(void);
|
||
/*
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||
@brief 备份区标记检测,备份区用于存储检测标记
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||
@param0 0备份区标记 或 1比对
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||
@param1 备份区数据掩码 2Bytes
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||
@param1 备份区写入数据 2Bytes
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||
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||
*/
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||
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void XT_Test_CheckBackFlag(void);
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||
/*
|
||
@brief 备份区标记检测,备份区用于存储检测标记
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||
*/
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||
void XT_Test_ReadBackFlag(void);
|
||
/*
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||
@brief 时钟校准
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||
@param0 校准模式 1 快速 0 全
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@param1 校准周期
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@param2 校准时长
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*/
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void XT_Test_Trim(void);
|
||
/*
|
||
@brief 放电
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||
*/
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||
void XT_Test_Discharge(void);
|
||
|
||
/*
|
||
@brief 失能通信末电流采集
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||
*/
|
||
void XT_Test_EnCommEndCur(void);
|
||
/*
|
||
@brief 获取通信末电流
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||
*/
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||
void XT_Test_GetCommEndCur(void);
|
||
/*
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||
@brief 在线检测
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@param 检测网络号
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||
*/
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||
void XT_Test_OneLineCheck(void);
|
||
/*
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||
@brief 状态检测,如果UID已经存在，使用UID读取。否则通过扫描的方式
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||
@param0 状态比较掩码
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||
*/
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||
void XT_Test_CheckState(void);
|
||
/*
|
||
@brief 起爆
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||
*/
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||
void XT_Test_Boom(void);
|
||
/*
|
||
@brief 复位
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||
*/
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||
void XT_Test_Reset(void);
|
||
/*
|
||
@brief 关总线
|
||
*/
|
||
void XT_Test_PowerOFF(void);
|
||
/*
|
||
@brief 芯片锁存
|
||
*/
|
||
void XT_Test_LockCmdC(void);
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||
/*
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||
@brief 赋码设备失能
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||
*/
|
||
|
||
void XT_Test_CodeBindEn(void);
|
||
/*
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||
@brief 接入检测
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||
@param0 上电电压
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||
@param1 超时次数
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||
*/
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||
void XT_Test_InputCheck(void);
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||
/*
|
||
@brief 密码验证
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||
*/
|
||
|
||
void XT_Test_CheckPWD(void);
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||
/*
|
||
@brief 三码写入
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@rtv 0 执行成功
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1 电压设置失败
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||
3 UID写入失败
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4 密码写入失败
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||
5 获取UID失败
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||
6 UID写入失败
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||
7 锁存失败
|
||
8 等待接入超时
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||
*/
|
||
|
||
uint8_t XT_UID_PWD_Bind(void);
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||
/*
|
||
@brief 加载配置参数
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||
@rtv UID长度
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||
@rtv 密码长度
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||
@rtv 版本号
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||
@rtv 反码数据
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||
*/
|
||
void XT_Test_LoadChipCfg(void);
|
||
/*
|
||
@breif 测量电容电压差
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||
@param0 两次测量间隔 0.1s
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||
@rtv0 电压差值
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||
*/
|
||
void XT_Test_CapVoltage(void);
|
||
/*
|
||
@brief 三码绑定验证
|
||
*/
|
||
void XT_Test_UID_PWD_Verify(void);
|
||
/*
|
||
@brief 写入三码数据
|
||
*/
|
||
void XT_Test_UID_PWD_Bind(void);
|
||
/*
|
||
@breif 在线检测 并扫描通信
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||
@param0 总线电压
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||
@param1 超时时间1ms 最大6S
|
||
@param2 UID长度
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||
*/
|
||
|
||
void XT_OnLine_SCAN(void);
|
||
/*
|
||
@brief 芯片离线检测
|
||
@param0 超时时间 1ms
|
||
@param1 离线电流 0.1uA
|
||
@param2 稳定次数
|
||
*/
|
||
|
||
void XT_OFFLine_SCAN(void);
|
||
/*
|
||
@brief 验证壳码 如果测试器有uid，将采用uid方式通信
|
||
@param 命令缓存参数的起始
|
||
@param 验证数据长度
|
||
*/
|
||
void XT_Test_VerfyShell(void);
|
||
/*
|
||
@brief 芯片离线检测
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||
@param0 充电使能
|
||
@param1 采样周期 10ms
|
||
@param2 采样次数
|
||
*/
|
||
|
||
void XT_CurMonitor(void);
|
||
|
||
#endif
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